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汽车集成电路(芯片)ACE-Q100认证

日期:2019/06/17  点击:172 次

汽车集成电路(芯片)ACE-Q100认证

AEC-Q100汽车集成电路(芯片)标准是由美国汽车电子协会(automotive electronics council, AEC)所制定的规范,主要是针对车载应用的集成电路(芯片,PCB板)产品所设计出的一套应力测试标准,此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。   

AEC-Q100是预防可能发生各种状况或潜在的故障状态,对每一个芯片进行严格的质量与可靠度确认,特别对产品功能与性能进行标准规范测试。

AEC-Q100-(001~012)标准测试:

AEC-Q100-001邦线切应力测试

AEC-Q100-002人体模式静电放电测试

AEC-Q100-003机械模式静电放电测试

AEC-Q100-004积体电路閂锁效应测试

AEC-Q100-005可写可擦除的永久性记忆的耐久性、资料保持及工作寿命的测试

AEC-Q100-006热电效应引起的寄生闸极漏电流测试

AEC-Q100-007故障仿真和测试等级

AEC-Q100-008早期寿命失效率(ELFR

AEC-Q100-009电分配评估

AEC-Q100-010锡球剪切测试

AEC-Q100-011带电器件模式的静电放电测试

AEC-Q100-01212V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述

AEC-Q100文件中,定义出以下几类不同任务的测试群组:

测试组 A: 加速环境应力测试(针对芯片产品)Accelerated Environment Stress Tests; 

测试组 B: 寿命加速模拟测试 (针对芯片产品/IP/工艺库) Accelerated Lifetime Simulation Tests;  

测试组 C: 封装完整性测试(针对芯片产品)Package Assembly Integrity Tests;  

测试组 D: 工艺可靠性测试(针对Foundry厂) Die Fabrication Reliability Tests;  

测试组 E: 电气可靠性测试(针对芯片产品/IO) Electrical Verification Tests;  

测试组 F: 缺陷筛选测试(针对芯片产品)Defect Screening Tests;  

测试组 G: 封装过程后的封装完整性测试(针对芯片产品)Cavity Package Integrity   

ACE-Q100对汽车零件工作温度等级定义如下:

0等级:环境工作温度范围-40-150

1等级:环境工作温度范围-40-125

2等级:环境工作温度范围-40-105

3等级:环境工作温度范围-40-85

4等级:环境工作温度范围0-70

AEC-Q100是由美国汽车电子协会AEC所制定的规范,主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准,此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。

AEC-Q100测试时间:8个月左右

AEC-Q100测试样品:200

AEC-Q100测试流程:

  咨询报价签订协议提交申请表(产品参数)--样品准备和产品资料确认实验室测试出具测试草稿件确认出具AEC-Q100测试报告

 

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